勒霍普森DUO粗糙度儀：雙模式測量的高效之選

泰勒霍普森DUO粗糙度儀是一款創(chuàng)新的雙模式表面粗糙度測量設(shè)備，集接觸式探針測量與非接觸式光學測量于一體，滿足現(xiàn)代制造中多樣化、高效率的檢測需求。DUO專為車間現(xiàn)場與質(zhì)量實驗室設(shè)計，適用于金屬、塑料、陶瓷等多種材料表面，廣泛應用于汽車零部件、精密模具、電子元件等領(lǐng)域。

該儀器采用高精度直線導軌與低摩擦探針系統(tǒng)，確保接觸式測量的穩(wěn)定性和重復性，可精確獲取Ra、Rz、Rq等傳統(tǒng)粗糙度參數(shù)。同時，集成的共聚焦或白光干涉光學頭可在不接觸工件的情況下完成快速掃描，特別適合軟質(zhì)、易損或復雜曲面的測量。兩種模式可在同一平臺上自由切換，用戶無需更換設(shè)備即可完成不同類型的檢測任務。

DUO配備直觀的觸摸屏界面與TalyProfile®軟件，支持一鍵式測量、自動判別與報告生成。內(nèi)置環(huán)境補償與振動抑制技術(shù)，保障在工業(yè)環(huán)境下的測量可靠性。輕巧緊湊的設(shè)計便于移動使用，同時支持數(shù)據(jù)導出與SPC統(tǒng)計分析，助力企業(yè)實現(xiàn)全面質(zhì)量管理。泰勒霍普森DUO粗糙度儀以其靈活性、精度與易用性，重新定義了表面粗糙度測量的標準，是現(xiàn)代智能制造的質(zhì)量守護者。